Industrial engineering and technology development supported by statistical methods
Nanoveda, nanotechnológie, nanometria a technologické inžinierstvo. Charakteristika technologických možností meracích a výrobných zariadení ako aj možnosti investovania v spomenutých oblastiach.
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| Autor principal: | |
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| Formato: | Capítulo de Livro |
| Idioma: | inglês |
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