Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /

Uložené v:
Hlavní autori: Goldstein, Joseph, 1939- (Autor), Newbury, Dale E. (Autor), Michael, Joseph R. (Autor), Ritchie, Nicholas W. M. (Autor), Scott, John Henry J. (Autor), Joy, David C. (Autor)
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: New York : Springer, 2018.
Vydanie:Fourth edition.
Predmet:
Scanning electron microscopy.
X-ray microanalysis.
On-line prístup:View in OPAC
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 i 4500
001 021607837
003 UkOxU
005 20260127134423.0
008 161208t20182018nyua b 001|0|eng||
015 |a GBB6K7285  |2 bnb 
016 7 |a 018150128  |2 Uk 
020 |a 9781493966745  |q hbk 
035 |a (UK-LoICS)9956130460101591 
035 |a (UkLoRLUK)099956130460101591 
035 |a (UkYoU)9958523207501381 
035 |a (UkLoRLUK)839958523207501381 
038 |a Uk 
040 |a StDuBDS  |b eng  |e rda  |c SK-BrSCK  |d DAWSON  |d UkOxU 
049 |l b 
049 |l b 
050 0 4 |a QH212.S3  |b G65 2018 
082 0 4 |a 502.825  |2 23 
084 |a 502.825  |b GOL 
100 1 |a Goldstein, Joseph,  |d 1939-  |e author. 
245 1 0 |a Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /  |c Joseph I. Goldstein , Dale E.Newbury, Joseph R.Michael, Nicholas W.M.Ritchie, John Henry J.Scott, David C.Joy. 
250 |a Fourth edition. 
264 1 |a New York :  |b Springer,  |c 2018. 
264 4 |c ©2018 
300 |a xxiii, 550 pages :  |b illustrations (black and white, and colour) ;  |c 28 cm. 
336 |a text  |2 rdacontent 
337 |a unmediated  |2 rdamedia 
338 |a volume  |2 rdacarrier 
500 |a Previous edition: New York: Plenum Press, 2003. 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
583 1 |a Legacy  |c 2018  |5 UoY 
650 0 |a Scanning electron microscopy. 
650 0 |a X-ray microanalysis. 
700 1 |a Newbury, Dale E.,  |e author. 
700 1 |a Michael, Joseph R.,  |e author. 
700 1 |a Ritchie, Nicholas W. M.,  |e author. 
700 1 |a Scott, John Henry J.,  |e author. 
700 1 |a Joy, David C.,  |e author. 
942 |2 udc  |c 14 
999 |c 12384  |d 12384 

Podobné jednotky