Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /

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Dettagli Bibliografici
Autori principali:	Goldstein, Joseph, 1939- (Autore), Newbury, Dale E. (Autore), Michael, Joseph R. (Autore), Ritchie, Nicholas W. M. (Autore), Scott, John Henry J. (Autore), Joy, David C. (Autore)
Natura:	Libro
Lingua:	inglese
Pubblicazione:	New York : Springer, 2018.
Edizione:	Fourth edition.
Soggetti:	Scanning electron microscopy. X-ray microanalysis.
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Dettagli sul posseduto da Knižnica polygrafie a aplikovanej fotochémie (VIII/b)
Collocazione:	schkA2021/102604
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