Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /

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Auteurs principaux:	Goldstein, Joseph, 1939- (Auteur), Newbury, Dale E. (Auteur), Michael, Joseph R. (Auteur), Ritchie, Nicholas W. M. (Auteur), Scott, John Henry J. (Auteur), Joy, David C. (Auteur)
Format:	Livre
Langue:	anglais
Publié:	New York : Springer, 2018.
Édition:	Fourth edition.
Sujets:	Scanning electron microscopy. X-ray microanalysis.
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