Semiconductor materials and structures characterization by methods of SIMS and optical analysis = Využitie metód optickej a materiálovej analýzy pre charakterizáciu polovovičov a polovodičových štruktúr : Diplomová práca

Gespeichert in:
1. Verfasser: Gašparovič, Marek (Verfasst von)
Weitere Verfasser: Kováč, Jaroslav, 1947- (Betreuung Doktorarbeit), McPhail, David S. (Betreuung Doktorarbeit), Chater, Richard (Betreuung Doktorarbeit)
Format: Manuskript Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2003
Schlagworte:
elektronika
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

Ähnliche Einträge: Semiconductor materials and structures characterization by methods of SIMS and optical analysis = Využitie metód optickej a materiálovej analýzy pre charakterizáciu polovovičov a polovodičových štruktúr :

Ähnliche Einträge