Semiconductor materials and structures characterization by methods of SIMS and optical analysis = Využitie metód optickej a materiálovej analýzy pre charakterizáciu polovovičov a polovodičových štruktúr : Diplomová práca

Na minha lista:
Autor principal: Gašparovič, Marek (Author)
Outros Autores: Kováč, Jaroslav, 1947- (Thesis advisor), McPhail, David S. (Thesis advisor), Chater, Richard (Thesis advisor)
Formato: Manuscrito Livro
Idioma:inglês
Publicado em: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2003
Assuntos:
elektronika
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stu81312
005 20160719164732.8
008 030702s2003------------------------eng-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a eng 
100 1 |a Gašparovič, Marek  |4 aut 
245 1 |a Semiconductor materials and structures characterization by methods of SIMS and optical analysis = Využitie metód optickej a materiálovej analýzy pre charakterizáciu polovovičov a polovodičových štruktúr :  |b Diplomová práca 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2003 
300 |a 73 s 
650 7 |a elektronika  |2 stusub 
700 1 |a Kováč, Jaroslav,  |d 1947-  |4 ths  |u E030  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 2102  |U E030  |Y 549  |7 A000002102 
700 1 |a McPhail, David S.  |4 ths 
700 1 |a Chater, Richard  |4 ths 

Registos relacionados