Semiconductor materials and structures characterization by methods of SIMS and optical analysis = Využitie metód optickej a materiálovej analýzy pre charakterizáciu polovovičov a polovodičových štruktúr : Diplomová práca

Enregistré dans:

Détails bibliographiques
Auteur principal:	Gašparovič, Marek (Auteur)
Autres auteurs:	Kováč, Jaroslav, 1947- (Directeur de thèse), McPhail, David S. (Directeur de thèse), Chater, Richard (Directeur de thèse)
Format:	Manuscrit Livre
Langue:	anglais
Publié:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2003
Sujets:	elektronika
Tags:	Ajouter un tag Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stu81312
005	20160719164732.8
008	030702s2003------------------------eng-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a eng
100	1		\|a Gašparovič, Marek \|4 aut
245	1		\|a Semiconductor materials and structures characterization by methods of SIMS and optical analysis = Využitie metód optickej a materiálovej analýzy pre charakterizáciu polovovičov a polovodičových štruktúr : \|b Diplomová práca
260			\|a Bratislava : \|b STU v Bratislave FEI, \|c 2003
300			\|a 73 s
650		7	\|a elektronika \|2 stusub
700	1		\|a Kováč, Jaroslav, \|d 1947- \|4 ths \|u E030 \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 2102 \|U E030 \|Y 549 \|7 A000002102
700	1		\|a McPhail, David S. \|4 ths
700	1		\|a Chater, Richard \|4 ths