Secondary ion Mass Spestrometry. SIMS 2 : Proceedings of the 2 international conference. Stanford, USA. 27.- 31. Aug. 1979 /
Uložené v:
| Ďalší autori: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | English |
| Vydavateľské údaje: |
Berlin :
Springer Verlag,
1979
|
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Secondary ion Mass Spestrometry. SIMS 2 :
- Secondary Ion Mass Spectometry : SIMS 4. Proceedings of the 4th international conference. Osaka, 13.- 19. Nov. 1983
- Secondary Ion Mass Spectrometry
- Secondary Ion Mass Spectrometry
- Practical Aspects of Ion Trap Mass Spectrometry. Volume III : Chemical, Environmental, and Biomedical Applications /
- Electron Capture Negative Ion Mass Spectra of Environmetal Contaminants and Related Compounds /
- Systém snímania a archvácie distribučných máp v režime iónovej mikrosondy hmotnostného spektrometra sekundárnych iónov = Distribution maps measurement and archiv system in the ion micriprobe regime of the secondary ion mass spectrometry : Dipl.práca