Spektroskopiské analýzy materiálov a štruktúr pre elektroniku : Obhaj.15.3.2005
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Lenguaje: | eslovaco inglés |
| Publicado: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2004
|
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Ejemplares similares: Spektroskopiské analýzy materiálov a štruktúr pre elektroniku :
- Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy /
- Vplyv segregácie fosforu na hraniciach zŕn na lomové chovanie Fe-Si-P : Diplomová práca
- Metody analýzy povrchů : Elektronová spektroskopie
- Metody elektronové spektroskopie /
- Príspevok k metódam merania, spracovania a vyhodnotenia Augerových spektier : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 28.02.1996 /
- Štúdium vplyvu regeneračného žíhania na mikroštruktúru konštrukčných materiálov jadrových zariadení s použitím pozitrónovej anihilačnej spektroskopie