Spektroskopiské analýzy materiálov a štruktúr pre elektroniku : Obhaj.15.3.2005
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Natura: | Manoscritto Libro |
| Lingua: | slovacco inglese |
| Pubblicazione: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2004
|
| Soggetti: | |
| Tags: |
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
Documenti analoghi: Spektroskopiské analýzy materiálov a štruktúr pre elektroniku :
- Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy /
- Vplyv segregácie fosforu na hraniciach zŕn na lomové chovanie Fe-Si-P : Diplomová práca
- Metody analýzy povrchů : Elektronová spektroskopie
- Metody elektronové spektroskopie /
- Príspevok k metódam merania, spracovania a vyhodnotenia Augerových spektier : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 28.02.1996 /
- Štúdium vplyvu regeneračného žíhania na mikroštruktúru konštrukčných materiálov jadrových zariadení s použitím pozitrónovej anihilačnej spektroskopie