Spektroskopiské analýzy materiálov a štruktúr pre elektroniku : Obhaj.15.3.2005
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque anglais |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2004
|
| Sujets: | |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Spektroskopiské analýzy materiálov a štruktúr pre elektroniku :
- Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy /
- Vplyv segregácie fosforu na hraniciach zŕn na lomové chovanie Fe-Si-P : Diplomová práca
- Metody analýzy povrchů : Elektronová spektroskopie
- Metody elektronové spektroskopie /
- Príspevok k metódam merania, spracovania a vyhodnotenia Augerových spektier : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 28.02.1996 /
- Štúdium vplyvu regeneračného žíhania na mikroštruktúru konštrukčných materiálov jadrových zariadení s použitím pozitrónovej anihilačnej spektroskopie