Návrh a realizácia obvodu pre testovanie SC odolnosti výkonových tranzistorov

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Forgáč, Martin (Autor)
Otros Autores: Marek, Juraj (Orientador)
Formato: Manuscrito Libro
Lenguaje:eslovaco
Publicado: 2019
Materias:
Acceso en línea:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=123974
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp72331
003 SK-STU
005 20190717124201.9
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Forgáč, Martin  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 80568  |U E030  |Y 549  |7 80568 
242 0 1 |a Design of test circuit for Short circuit testing of power transistors  |y eng 
245 1 0 |a Návrh a realizácia obvodu pre testovanie SC odolnosti výkonových tranzistorov 
260 |c 2019 
300 |a 42 s. 
650 4 |a MOSFET  |2 slo 
650 4 |a tranzistor  |2 slo 
650 4 |a výkonové prvky  |2 slo 
650 4 |a skrat  |2 slo 
650 4 |a odolnosť  |2 slo 
650 4 |a MOSFET  |2 eng 
650 4 |a power devices  |2 eng 
650 4 |a transistor  |2 eng 
650 4 |a short circuit  |2 eng 
650 4 |a reliability  |2 eng 
700 1 |a Marek, Juraj  |u 033000  |k Z2  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 24483  |U E030  |Y 549  |7 A000024483 
856 4 |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=123974 
996 |b 284ER02834  |c E*Bc- 2834  |l EE33  |s P  |a 0  |w stuzp72331_0001