Analýza štruktúry materiálov pomocou mikro-Ramamanovho mikroskopu
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Lenguaje: | eslovaco |
| Publicado: |
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=EAE7EF6B68A1C52649C21346D593&seo=CRZP-detail-kniha |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Ejemplares similares: Analýza štruktúry materiálov pomocou mikro-Ramamanovho mikroskopu
- Charakterizácia GaN bufferových vrstiev rastených na SiC pomocou MOCVD pri rôznych tlakoch
- Identifikácia porúch v polovodičových štruktúrach pre výkonovú elektroniku
- Meranie a charakterizácia energetickej odolnosti moderných výkonových elektronických prvkov zaťažených UIS a SC testom : dátum obhajoby 25.8.2023
- Elektrická charakterizácia štruktúr na báze progresívnych polovodičových materiálov : dát. obhaj. 11.8.2015, č. ved. odb. 5-2-13
- Analýza vlastností materiálov pomocou mikro-Ramamanovského mikroskopu
- Vplyv parametrov prípravy kompozitu Si3N4+SiC na jeho vybrané vlastnosti