Analýza štruktúry materiálov pomocou mikro-Ramamanovho mikroskopu
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=EAE7EF6B68A1C52649C21346D593&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Analýza štruktúry materiálov pomocou mikro-Ramamanovho mikroskopu
- Charakterizácia GaN bufferových vrstiev rastených na SiC pomocou MOCVD pri rôznych tlakoch
- Identifikácia porúch v polovodičových štruktúrach pre výkonovú elektroniku
- Meranie a charakterizácia energetickej odolnosti moderných výkonových elektronických prvkov zaťažených UIS a SC testom : dátum obhajoby 25.8.2023
- Elektrická charakterizácia štruktúr na báze progresívnych polovodičových materiálov : dát. obhaj. 11.8.2015, č. ved. odb. 5-2-13
- Analýza vlastností materiálov pomocou mikro-Ramamanovského mikroskopu
- Vplyv parametrov prípravy kompozitu Si3N4+SiC na jeho vybrané vlastnosti