Skúmanie kvality progresívnych polovodičových prvkov pre výkonové aplikácie

Saved in:
Main Author: Faraga, Jan (Author)
Other Authors: Stuchlíková, Ľubica (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
Subjects:
elektricky aktívne poruchy
DLTFS
SiC
Trench MOSFET
elektrické namáhanie
trench MOSFET
electrically active defects
electrical stress
Online Access:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildO3FSN&sid=2D2C61E4341E53665F67113BFA9A&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp88510
003 SK-STU
005 20241125134505.5
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Faraga, Jan  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 99610  |U E030  |Y 549  |7 99610 
242 0 1 |a Investigation of the quality of progressive semiconductor devices for power applications  |y eng 
245 1 0 |a Skúmanie kvality progresívnych polovodičových prvkov pre výkonové aplikácie 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2023 
300 |a 61 s. 
650 4 |a elektricky aktívne poruchy  |2 slo 
650 4 |a DLTFS  |2 slo 
650 4 |a SiC  |2 slo 
650 4 |a Trench MOSFET  |2 slo 
650 4 |a elektrické namáhanie  |2 slo 
650 4 |a SiC  |2 eng 
650 4 |a trench MOSFET  |2 eng 
650 4 |a electrically active defects  |2 eng 
650 4 |a DLTFS  |2 eng 
650 4 |a electrical stress  |2 eng 
700 1 |a Stuchlíková, Ľubica  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 1997  |U E030  |Y 549  |7 A000001997 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildO3FSN&sid=2D2C61E4341E53665F67113BFA9A&seo=CRZP-detail-kniha 

Similar Items