Mikroštrukturálna charakterizácia Ga2O3 vrstiev s ohľadom pre ich využitie ako širokopásmového polovodiča pre vývoj nových výkonových elektronických súčiastok
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2023
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildQIAI2&sid=B9F89BDF2FCAC708572C514B24F4&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Mikroštrukturálna charakterizácia Ga2O3 vrstiev s ohľadom pre ich využitie ako širokopásmového polovodiča pre vývoj nových výkonových elektronických súčiastok
- Analýza guľových čapov poškodených pri nitovaní
- Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy : Techniques
- Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy : Methodology
- Hodnotenie mikroštruktúry viacvrstvového návaru vyrobeného aditívnou výrobou z niklovej zliatiny
- Analýza tvorby obrazu v svetelnej mikroskopii a transmisnej elektrónovej mikroskopii = Analysis of forming of image in light microscopy and transmission electron microscopy : Diplomová práca
- Úvod do transmisní elektronové mikroskopie