Mikroštrukturálna charakterizácia Ga2O3 vrstiev s ohľadom pre ich využitie ako širokopásmového polovodiča pre vývoj nových výkonových elektronických súčiastok
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2023
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildQIAI2&sid=B9F89BDF2FCAC708572C514B24F4&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Mikroštrukturálna charakterizácia Ga2O3 vrstiev s ohľadom pre ich využitie ako širokopásmového polovodiča pre vývoj nových výkonových elektronických súčiastok
- Analýza guľových čapov poškodených pri nitovaní
- Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy : Techniques
- Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy : Methodology
- Hodnotenie mikroštruktúry viacvrstvového návaru vyrobeného aditívnou výrobou z niklovej zliatiny
- Analýza tvorby obrazu v svetelnej mikroskopii a transmisnej elektrónovej mikroskopii = Analysis of forming of image in light microscopy and transmission electron microscopy : Diplomová práca
- Úvod do transmisní elektronové mikroskopie