Mikroštrukturálna charakterizácia Ga2O3 vrstiev s ohľadom pre ich využitie ako širokopásmového polovodiča pre vývoj nových výkonových elektronických súčiastok
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Manuskript Buch |
| Sprache: | Slowakisch |
| Veröffentlicht: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2023
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildQIAI2&sid=B9F89BDF2FCAC708572C514B24F4&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!
|
Ähnliche Einträge: Mikroštrukturálna charakterizácia Ga2O3 vrstiev s ohľadom pre ich využitie ako širokopásmového polovodiča pre vývoj nových výkonových elektronických súčiastok
- Analýza guľových čapov poškodených pri nitovaní
- Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy : Techniques
- Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy : Methodology
- Hodnotenie mikroštruktúry viacvrstvového návaru vyrobeného aditívnou výrobou z niklovej zliatiny
- Analýza tvorby obrazu v svetelnej mikroskopii a transmisnej elektrónovej mikroskopii = Analysis of forming of image in light microscopy and transmission electron microscopy : Diplomová práca
- Úvod do transmisní elektronové mikroskopie