Mikroštrukturálna charakterizácia Ga2O3 vrstiev s ohľadom pre ich využitie ako širokopásmového polovodiča pre vývoj nových výkonových elektronických súčiastok

Documenti analoghi

• Analýza guľových čapov poškodených pri nitovaní
  di: Pavúček, Imrich
  Pubblicazione: (2019)
• Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy : Techniques
  di: Ayache, Jeanne, et al.
  Pubblicazione: (2010)
• Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy : Methodology
  di: Ayache, Jeanne, et al.
  Pubblicazione: (2010)
• Hodnotenie mikroštruktúry viacvrstvového návaru vyrobeného aditívnou výrobou z niklovej zliatiny
  di: Urbánek, Adam
  Pubblicazione: (2023)
• Analýza tvorby obrazu v svetelnej mikroskopii a transmisnej elektrónovej mikroskopii = Analysis of forming of image in light microscopy and transmission electron microscopy : Diplomová práca
  di: Bednár, Matej
  Pubblicazione: (2008)