Identifikácia porúch v polovodičových štruktúrach pre výkonovú elektroniku

Saved in:
Main Author: Táčik, Tomáš (Author)
Other Authors: Matuš, Matej (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
Subjects:
SiC
dióda
porucha
DLTFS
diode
defect
Online Access:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildKS295&sid=52D5268610832158DAA096036F77&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp91947
003 SK-STU
005 20241114134425.0
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Táčik, Tomáš  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 111082  |U E030  |Y 549  |7 111082 
242 0 1 |a Identification of defects in semiconductor structures and devices for power electronics  |y eng 
245 1 0 |a Identifikácia porúch v polovodičových štruktúrach pre výkonovú elektroniku 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2023 
300 |a 57 s. 
650 4 |a SiC  |2 slo 
650 4 |a dióda  |2 slo 
650 4 |a porucha  |2 slo 
650 4 |a DLTFS  |2 slo 
650 4 |a SiC  |2 eng 
650 4 |a diode  |2 eng 
650 4 |a defect  |2 eng 
650 4 |a DLTFS  |2 eng 
700 1 |a Matuš, Matej  |u 033000  |k Z3  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 92528  |U E030  |Y 549  |7 92528 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildKS295&sid=52D5268610832158DAA096036F77&seo=CRZP-detail-kniha 

Similar Items