Identifikácia porúch v polovodičových štruktúrach pre výkonovú elektroniku
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2023
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildKS295&sid=52D5268610832158DAA096036F77&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Identifikácia porúch v polovodičových štruktúrach pre výkonovú elektroniku
- Identifikácia porúch v štruktúrach na báze zriedených nitridov
- Skúmanie defektov v polovodičových štruktúrach na báze SiC
- Analýza porúch v polovodičových štruktúrach na báze SiC
- Analýza štruktúry materiálov pomocou mikro-Ramamanovho mikroskopu
- Skúmanie kvality progresívnych polovodičových prvkov pre výkonové aplikácie
- Elektrická a teplotná charakterizácia SiC polovodičových prvkov