Analýza a optimalizácia vlastností MOS tranzistora namáhaného cyklickým výkonovým testom za podpory simulácií

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Suhaj, Patrik (Author)
Other Authors: Chvála, Aleš (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: 2025
Subjects:
Online Access:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=184540
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp99096
003 SK-STU
005 20250614210635.7
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
100 1 |a Suhaj, Patrik  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 111079  |U E030  |Y 549  |7 111079 
242 0 1 |a Analysis and Optimization of MOS Transistor Properties Subjected to Power Cyclic Testing with the Support of Simulations  |y eng 
245 1 0 |a Analýza a optimalizácia vlastností MOS tranzistora namáhaného cyklickým výkonovým testom za podpory simulácií 
260 |c 2025 
650 4 |a simulations  |2 eng 
650 4 |a calibration  |2 eng 
650 4 |a power cycling test  |2 eng 
650 4 |a power MOS trasistor  |2 eng 
650 4 |a simulácie  |2 slo 
650 4 |a kalibrácia  |2 slo 
650 4 |a cyklický výkonový test  |2 slo 
650 4 |a výkonový MOS tranzistor  |2 slo 
700 1 |a Chvála, Aleš  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 10315  |U E030  |Y 549  |7 A000010315 
856 4 |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=184540