Advanced simulation of statistical variability and reliability in nano CMOS transistors

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Asenov, Asen
Otros Autores: Roy, Scott, Brown, Adrew R., Roy, Gareth, Alexander, Craig, Riddet, Craig, Millar, Campbell, Cheng, Binjie, Martinez, Antonio, Seoane, Natalia, Reid, Dave, Bukhori, M.F, Wang, X., Kováč, Urban
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
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