Design and test technology for dependable systems-on-chip /
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| Altri autori: | , , |
|---|---|
| Natura: | Libro |
| Lingua: | inglese |
| Pubblicazione: |
Hershey
IGI Global
2011
|
| Edizione: | 1. vyd. |
| Tags: |
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|
MARC
| LEADER | 00000nam a22000003a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 0066437 | ||
| 003 | SK-STU | ||
| 005 | 20180725185345.0 | ||
| 007 | ta | ||
| 008 | 180725s ----xo-----e------000-0-----d | ||
| 020 | |a 978-1-60960-212-3 | ||
| 040 | |a STU |b slo | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 044 | |a xxu | ||
| 100 | 1 | |a Ubar, Raimund |4 edt | |
| 245 | 1 | 0 | |a Design and test technology for dependable systems-on-chip / |c ed. Raimund Ubar ; ed. Jaann Raik, Theodor Heinrich Vierhaus |
| 250 | |a 1. vyd. | ||
| 260 | |a Hershey |b IGI Global |c 2011 | ||
| 300 | |a 550 s. | ||
| 700 | 1 | |a Raik, Jaann |4 edt | |
| 700 | 1 | |a Vierhaus, Theodor Heinrich |4 edt | |
| 996 | |b 284IK06892 |c I* 2C14021 |l I |s A |a 24 |w 0066437_0001 | ||