Design and test technology for dependable systems-on-chip /

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Autres auteurs: Ubar, Raimund (Éditeur intellectuel), Raik, Jaann (Éditeur intellectuel), Vierhaus, Theodor Heinrich (Éditeur intellectuel)
Format: Livre
Langue:anglais
Publié: Hershey IGI Global 2011
Édition:1. vyd.
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