Design and test technology for dependable systems-on-chip /

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Dettagli Bibliografici
Altri autori: Ubar, Raimund (Redattore), Raik, Jaann (Redattore), Vierhaus, Theodor Heinrich (Redattore)
Natura: Libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: Hershey IGI Global 2011
Edizione:1. vyd.
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