Design and test technology for dependable systems-on-chip /

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Ubar, Raimund (Herausgegeben von), Raik, Jaann (Herausgegeben von), Vierhaus, Theodor Heinrich (Herausgegeben von)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Hershey IGI Global 2011
Ausgabe:1. vyd.
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