Charakterizácia elektrofyzikálnych vlastností implantovaných štruktúr MOS s tenkými izolačnými vrstvami s vysokou permitivitou

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kmeť, Adam (Verfasst von)
Weitere Verfasser: Harmatha, Ladislav, 1948- (Betreuung Doktorarbeit), Kováč, Peter (Betreuung Doktorarbeit)
Format: Manuskript Buch
Sprache:Slowakisch
Veröffentlicht: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2007
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