Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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| Main Authors: | , |
|---|---|
| Formato: | Livro |
| Idioma: | inglês |
| Publicado em: |
Dordrecht :
Springer Verlag,
2007
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| Edição: | 2.ed. |
| Assuntos: | |
| Tags: |
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