Application of spreading resistence profiling for monitoring of semiconductor technological processes = Využitie metódy rozptylového odporu na monitorovanie technologických procesov polovodičovej výroby : Dát. obhaj. 25.02.2010, č. ved. odb. 26-13-9
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | , |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | English |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2009
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Application of spreading resistence profiling for monitoring of semiconductor technological processes = Využitie metódy rozptylového odporu na monitorovanie technologických procesov polovodičovej výroby :
- Príručka polovodičovej techniky
- Electrical resistivity handbook /
- Určenie hodnoty teplotného koeficientu elektrického odporu medi = Determination of value of resistance temperature coeficientof Copper : Bakalárska práca
- Wide Bandgap Semiconductors /
- Semiconductor modeling : For Simulating Signal, Power, and Electromagnatic Integrity
- Compound Semiconductor Bulk Materials and Characterizations