Preparation and characterization of thin films using FIB technique
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak English |
| Vydavateľské údaje: |
2019
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=143238 |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Preparation and characterization of thin films using FIB technique
- Príprava a charakterizácia supravodivých a manganitových tenkých vrstiev
- Bytový dom
- Meranie hodnôt prúdu iónového zväzku s mimoriadne vysokou mierou bezpečnosti a spoľahlivosti
- Hole Channel GaN-based Transistor for Power Electronics : dátum obhajoby 23.8.2023
- Modelovanie robustného senzora tlaku na báze progresívnych polovodičových materiálov
- Optimalizácia ohmických kontaktov pre InAlN/GaN tranzistory