Preparation and characterization of thin films using FIB technique
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak English |
| Published: |
2019
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=143238 |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Preparation and characterization of thin films using FIB technique
- Príprava a charakterizácia supravodivých a manganitových tenkých vrstiev
- Bytový dom
- Meranie hodnôt prúdu iónového zväzku s mimoriadne vysokou mierou bezpečnosti a spoľahlivosti
- Hole Channel GaN-based Transistor for Power Electronics : dátum obhajoby 23.8.2023
- Modelovanie robustného senzora tlaku na báze progresívnych polovodičových materiálov
- Optimalizácia ohmických kontaktov pre InAlN/GaN tranzistory