Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre výkonové aplikácie
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2021
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=FD5533CA5E14D63E45B76AE9A2AD&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre výkonové aplikácie
- Skúmanie porúch v moderných polovodičových materiáloch
- Skúmanie emisných a záchytných procesov v štruktúrach na báze GaN spektroskopiou hlbokých hladín
- Skúmanie kvality progresívnych polovodičových prvkov pre výkonové aplikácie
- Identifikácia porúch v moderných polovodičových štruktúrach pre výkonové aplikácie
- Analýza porúch v polovodičových štruktúrach na báze SiC
- Distribúcia elektricky aktívnych porúch v moderných polovodičových prvkoch na báze GaN