Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre výkonové aplikácie
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Manuskript Buch |
| Sprache: | Slowakisch |
| Veröffentlicht: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2021
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=FD5533CA5E14D63E45B76AE9A2AD&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!
|
Ähnliche Einträge: Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre výkonové aplikácie
- Skúmanie porúch v moderných polovodičových materiáloch
- Skúmanie emisných a záchytných procesov v štruktúrach na báze GaN spektroskopiou hlbokých hladín
- Skúmanie kvality progresívnych polovodičových prvkov pre výkonové aplikácie
- Identifikácia porúch v moderných polovodičových štruktúrach pre výkonové aplikácie
- Analýza porúch v polovodičových štruktúrach na báze SiC
- Distribúcia elektricky aktívnych porúch v moderných polovodičových prvkoch na báze GaN