Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre výkonové aplikácie

Saved in:
Main Author: Faraga, Jan (Author)
Other Authors: Stuchlíková, Ľubica (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2021
Subjects:
elektricky aktívne defekty
IGBT
DLTFS
Arrheniová závislosť
electrically active defects
Arrhenius plot
Online Access:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=FD5533CA5E14D63E45B76AE9A2AD&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Be the first to leave a comment!
You must be logged in first

Similar Items