Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre výkonové aplikácie
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2021
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=FD5533CA5E14D63E45B76AE9A2AD&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
MARC
| LEADER | 00000ntm a22000003a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | stuzp81795 | ||
| 003 | SK-STU | ||
| 005 | 20210817124720.8 | ||
| 007 | ta | ||
| 008 | 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d | ||
| 040 | |a STU |b slo | ||
| 041 | 0 | |a slo | |
| 044 | |a xo | ||
| 100 | 1 | |a Faraga, Jan |u 033000 |4 aut |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky |X 99610 |U E030 |Y 549 |7 99610 | |
| 242 | 0 | 1 | |a Investigation of Defects in Advanced Transistor Structures for Power Applications |y eng |
| 245 | 1 | 0 | |a Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre výkonové aplikácie |
| 260 | |a Bratislava : | ||
| 260 | |b STU v Bratislave FEI, | ||
| 260 | |c 2021 | ||
| 300 | |a 54 s. | ||
| 650 | 4 | |a elektricky aktívne defekty |2 slo | |
| 650 | 4 | |a IGBT |2 slo | |
| 650 | 4 | |a DLTFS |2 slo | |
| 650 | 4 | |a Arrheniová závislosť |2 slo | |
| 650 | 4 | |a IGBT |2 eng | |
| 650 | 4 | |a DLTFS |2 eng | |
| 650 | 4 | |a electrically active defects |2 eng | |
| 650 | 4 | |a Arrhenius plot |2 eng | |
| 700 | 1 | |a Stuchlíková, Ľubica |u 033000 |k Z1 |4 ths |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky |X 1997 |U E030 |Y 549 |7 A000001997 | |
| 856 | 4 | |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=FD5533CA5E14D63E45B76AE9A2AD&seo=CRZP-detail-kniha | |