Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | |
| Natura: | Manoscritto Libro |
| Lingua: | slovacco inglese |
| Pubblicazione: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2017
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130792 |
| Tags: |
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
Documenti analoghi: Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu :
- Charakterizácia materiálov pre fúzne reaktory pomocou GIXRD
- In-situ XRD analysis of stress evolution in the hot dip wire coating during bending
- Vysokopresné metódy obrábania povrchov RTG kryštálovej optiky
- Riešenie kryštálovej štrúktury komplexov chinolónov metódami difrakcie RTG žiarenia
- Hydrometalurgické získavanie striebra z použitých rtg snímkov
- RTG kontrola zvarových spojov v petrochemickom priemysle