Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48

Saved in:
Main Author: Novák, Patrik (Author)
Other Authors: Dobročka, Edmund (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
English
Published: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2017
Subjects:
ZnO
rtg (difrakčný) napäťový faktor
lom rtg žiarenia
zvyškové napätie
metóda šikmého dopadu rtg difrkacie
textúra
residual stress
grazing incidence X-ray diffraction
texture
X-ray stress factors
Refraction of X-rays
Online Access:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130792
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Physical Description:119 s., AUTOREF. 2017, 29 s.

Similar Items