Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Novák, Patrik (Autor)
Otros Autores: Dobročka, Edmund (Orientador)
Formato: Manuscrito Libro
Lenguaje:eslovaco
inglés
Publicado: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2017
Materias:
Acceso en línea:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130792
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