Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Lenguaje: | eslovaco inglés |
| Publicado: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2017
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130792 |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
MARC
| LEADER | 00000ntm a22000003a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | stuzp35557 | ||
| 003 | SK-STU | ||
| 005 | 20230413105453.1 | ||
| 007 | ta | ||
| 008 | 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d | ||
| 040 | |a STU |b slo | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 100 | 1 | |a Novák, Patrik |u 036000 |k Z8 |4 aut |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva |X 51414 |U E060 |Y 817 |7 A000051414 | |
| 242 | 0 | 1 | |a Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu |y slo |
| 245 | 1 | 0 | |a Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : |b dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48 |
| 260 | |a Bratislava : | ||
| 260 | |b STU v Bratislave FEI, | ||
| 260 | |c 2017 | ||
| 300 | |a 119 s., |b AUTOREF. 2017, 29 s. | ||
| 650 | 4 | |a ZnO |2 slo | |
| 650 | 4 | |a rtg (difrakčný) napäťový faktor |2 slo | |
| 650 | 4 | |a lom rtg žiarenia |2 slo | |
| 650 | 4 | |a zvyškové napätie |2 slo | |
| 650 | 4 | |a metóda šikmého dopadu rtg difrkacie |2 slo | |
| 650 | 4 | |a textúra |2 slo | |
| 650 | 4 | |a ZnO |2 eng | |
| 650 | 4 | |a residual stress |2 eng | |
| 650 | 4 | |a grazing incidence X-ray diffraction |2 eng | |
| 650 | 4 | |a texture |2 eng | |
| 650 | 4 | |a X-ray stress factors |2 eng | |
| 650 | 4 | |a Refraction of X-rays |2 eng | |
| 700 | 1 | |a Dobročka, Edmund |k Z5 |4 ths |X 2565 |7 A000002565 | |
| 856 | 4 | |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130792 | |
| 996 | |b 284ED01594 |c E*ZP-449 |l EE01 |s A |a 24 |w stuzp35557_0001 | ||