Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48

Enregistré dans:

Détails bibliographiques
Auteur principal:	Novák, Patrik (Auteur)
Autres auteurs:	Dobročka, Edmund (Directeur de thèse)
Format:	Manuscrit Livre
Langue:	slovaque anglais
Publié:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2017
Sujets:	ZnO rtg (difrakčný) napäťový faktor lom rtg žiarenia zvyškové napätie metóda šikmého dopadu rtg difrkacie textúra residual stress grazing incidence X-ray diffraction texture X-ray stress factors Refraction of X-rays
Accès en ligne:	http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130792
Tags:	Ajouter un tag Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stuzp35557
003	SK-STU
005	20230413105453.1
007	ta
008	150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a eng
100	1		\|a Novák, Patrik \|u 036000 \|k Z8 \|4 aut \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva \|X 51414 \|U E060 \|Y 817 \|7 A000051414
242	0	1	\|a Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu \|y slo
245	1	0	\|a Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : \|b dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48
260			\|a Bratislava :
260			\|b STU v Bratislave FEI,
260			\|c 2017
300			\|a 119 s., \|b AUTOREF. 2017, 29 s.
650		4	\|a ZnO \|2 slo
650		4	\|a rtg (difrakčný) napäťový faktor \|2 slo
650		4	\|a lom rtg žiarenia \|2 slo
650		4	\|a zvyškové napätie \|2 slo
650		4	\|a metóda šikmého dopadu rtg difrkacie \|2 slo
650		4	\|a textúra \|2 slo
650		4	\|a ZnO \|2 eng
650		4	\|a residual stress \|2 eng
650		4	\|a grazing incidence X-ray diffraction \|2 eng
650		4	\|a texture \|2 eng
650		4	\|a X-ray stress factors \|2 eng
650		4	\|a Refraction of X-rays \|2 eng
700	1		\|a Dobročka, Edmund \|k Z5 \|4 ths \|X 2565 \|7 A000002565
856	4		\|u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130792
996			\|b 284ED01594 \|c E*ZP-449 \|l EE01 \|s A \|a 24 \|w stuzp35557_0001