Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Novák, Patrik (Verfasst von)
Weitere Verfasser:	Dobročka, Edmund (Betreuung Doktorarbeit)
Format:	Manuskript Buch
Sprache:	Slowakisch Englisch
Veröffentlicht:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2017
Schlagworte:	ZnO rtg (difrakčný) napäťový faktor lom rtg žiarenia zvyškové napätie metóda šikmého dopadu rtg difrkacie textúra residual stress grazing incidence X-ray diffraction texture X-ray stress factors Refraction of X-rays
Online-Zugang:	http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130792
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

View in STU Opac

Schreiben Sie den ersten Kommentar!

Ähnliche Einträge