Meranie a charakterizácia energetickej odolnosti moderných výkonových elektronických prvkov zaťažených UIS a SC testom : dátum obhajoby 25.8.2023
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2023
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildGQR6Q&sid=4B1C4D75B6D4960DFBA601FA792C&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Meranie a charakterizácia energetickej odolnosti moderných výkonových elektronických prvkov zaťažených UIS a SC testom :
- Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu
- Modelovanie a simulácia SiC MOSFET tranzistora v podmienkach UIS testu
- Charakterizácia výkonových elektronických prvkov a meranie energetickej odolnosti pomocou UIS testu
- Charakterizácia GaN bufferových vrstiev rastených na SiC pomocou MOCVD pri rôznych tlakoch
- Úprava zariadenia pre UIS testovanie
- Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov