Testovanie výkonových SiC MOSFET tranzistorov v podmienkach skratu
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2021
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=7E417B54B864B7C45D2AFB4635AB&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Testovanie výkonových SiC MOSFET tranzistorov v podmienkach skratu
- Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu
- Skúmanie defektov v polovodičových štruktúrach na báze SiC
- Registrácia ionizujúceho žiarenia SiC detektorom
- Modelovanie a simulácia SiC MOSFET tranzistora v podmienkach UIS testu
- Štúdium vplyvu chemického zloženia na vlastnosti keramického kompozitu Si3N4+SiC
- Parametre porúch v polovodičových štruktúrach